Test-Device für EMV-Konformitätstest

Die IO-Link Interface Spezifikation V1.1.2 erfordert für den EMV Test ein bestimmtes Test-Device (siehe Anhang G.2.2: Test of a Master), welches bei der Durchführung des EMV Tests an den Master angeschlossen werden soll.

Für den Test erzeugt das Test-Device 8-Bit Zufallszahlen, die als Prozessdaten vom Master gelesen und im nächsten Zyklus an das Test-Device zurückgeschrieben werden sollen.

Das Device überprüft dann, ob die vom Master zurückgesandten Prozessdaten mit den im vorhergehenden Zyklus gesendeten Daten übereinstimmen und erhöht einen internen Feherzähler, falls dies nichLorem ipsum dolor sit amet, consectetuer adipiscing elit. Ut commodo pretium nisl. Integer sit amet lectus. Nam suscipit magna nec nunc. Maecenas eros ipsum, malesuada at, malesuada a, ultricies dignissim, justo. Mauris gravida dui eget elit.t der Fall sein sollte. Der Fehlerzähler wird auch erhöht, wenn ein Checksummenfehler oder ein Paritätsfehler detektiert wurde oder wenn ein Masterzyklus komplett ausbleibt.

Der Zustand des Fehlerzählers wird auf einer Siebensegmentanzeige wiedergegeben. Zusätzlich kann der Master nach Beendigung des Tests den Fehlerzähler über IO-Link Parameter auslesen. Die IO-Link Schnittstelle erlaubt es auch, die Fehlerstände der einzelnen Fehlerarten auszulesen.

Um bei Problemen diese besser identifizieren zu können gibt es einen optischen Triggerausgang, der über einen Lichtwellenleiter mit einer Triggerbox verbunden werden kann. Die Triggerbox wandelt das optische Signal in ein elektrisches Signal um, das dann beispielsweise mit dem Triggereingang eines Speicheroszilloskops verbunden werden kann.

Das EMV-Test Device ist konfigurierbar. So kann zum Beispiel die Baudrate über DIP-Schalter eingestellt werden.

• Entspricht den Anforderungen der V1.1.2 IO-Link Interface Specification
• Alle 3 COM-Raten werden unterstützt (DIP Schalter)
• Interner Pseudo-Random-Zufallsgenerator
• Fehlerzähler für Parität, Checksumme, Daten- und Time-Out Fehler
• Dual 7-Segment Anzeige für Betriebmodus und Fehlerstand
• Fehlerstände sind über IO-Link abrufbar
• Optischer Fehler-Trigger Ausgang

• Kein zusätzlicher Entwicklungsaufwand bei Master-Herstellern
• Kürzeres "Time to Market" bei Master Entwicklungen
• Unterstützungsfunktionen zur Fehleranalyse