Die IO-Link Interface Spezifikation V1.1.3 erfordert für den EMV Test
ein bestimmtes Test-Device (siehe Anhang H.2.2: Test of a Master),
welches bei der Durchführung des EMV Tests an den Master angeschlossen
werden soll.
Für den Test erzeugt das Test-Device 8-Bit Zufallszahlen, die als
Prozessdaten vom Master gelesen und im nächsten Zyklus an das
Test-Device zurückgeschrieben werden sollen.
Das Device überprüft dann, ob die vom Master zurückgesandten
Prozessdaten mit den im vorhergehenden Zyklus gesendeten Daten
übereinstimmen und erhöht einen internen Feherzähler, falls dies nicht
der Fall sein sollte. Der Fehlerzähler wird auch erhöht, wenn ein
Checksummenfehler oder ein Paritätsfehler detektiert wurde oder wenn ein
Masterzyklus komplett ausbleibt.
Der Zustand des Fehlerzählers wird auf einer Siebensegmentanzeige
wiedergegeben. Zusätzlich kann der Master nach Beendigung des Tests den
Fehlerzähler über IO-Link Parameter auslesen. Die IO-Link Schnittstelle
erlaubt es auch, die Fehlerstände der einzelnen Fehlerarten auszulesen.
Um bei Problemen diese besser identifizieren zu können gibt es einen
optischen Triggerausgang, der über einen Lichtwellenleiter mit einer
Triggerbox verbunden werden kann. Die Triggerbox wandelt das optische
Signal in ein elektrisches Signal um, das dann beispielsweise mit dem
Triggereingang eines Speicheroszilloskops verbunden werden kann.
Das EMV-Test Device ist konfigurierbar. So kann zum Beispiel die Baudrate über DIP-Schalter eingestellt werden.