Zur Unterstützung bei der Entwicklung von IO-Link Produkten, für deren Betrieb und für das Aufspüren von eventuellen Problemen haben wir einige Werkzeuge entwickelt.

Unsere Werkzeuge helfen bei

  • der IODD Erstellung
  • bei Konformitätstests für den IO-Link Master und Devices
  • der Durchführung von EMV-Tests
  • der Analyse und Beurteilung elektrischer und logischer Parameter der IO-Link Schnittstelle

Test Master für EMV Konformitätstests

Die IO-Link-Spezifikation definiert Verfahren zum Testen der EMV-Robustheit von IO-Link-Geräten. Unter anderem wird die Empfindlichkeit der IO-Link-Kommunikation von IO-Link-Geräten unter EMV-Bedingungen überprüft. Dies erfordert einen robusten Master, der gegenüber EMV-Rauschen weit weniger empfindlich ist als das zu testende Gerät. Dies wird durch die Trennung des IO-Link-Masters in zwei Teile erreicht: Teil 1 enthält die sensible digitale Logik (µC-Box), Teil 2 den IO-Link-Transceiver (PHY-Box).
Beide Teile sind durch eine optische Verbindung mit einer Länge von bis zu 10 m getrennt.

EMV-Testsystem Spezifikationen

  • Entspricht der IO-Link-Schnittstellenspezifikation V1.1.2 und der aktuellen IO-Link-Testspezifikation.  
  •  Fehler- und Signalausgabe
  • 4 elektrische IO-Link-Port-Konfigurationen
            COM1 / 2 Port (gutes Signal)
            COM1 / 2 Port (schlechtes Signal)
            COM3 ​​Port (gutes Signal)
            COM3 Port (schlechtes Signal)
  • RS232- und USB-Schnittstellen
  • Terminalbasierter Steuerbefehlssatz
  • Zusätzliche EMV-Test- und Steuerungssoftware mit grafischer Benutzeroberfläche
  • Testberichterstellung im PDF-Format
  • Kann für den Betrieb als Standard "USB IO-Link Master" konfiguriert werden
  • Firmware-Update wird unterstützt

Vorteile

  • Empfindliche Teile befinden sich außerhalb der EMV-Kammer
  • EMV-Robustheit deutlich besser als erforderlich

Test-Device für EMV-Konformitätstest

Test-Device für EMV-Konformitätstest

Die IO-Link Interface Spezifikation V1.1.3 erfordert für den EMV Test ein bestimmtes Test-Device (siehe Anhang H.2.2: Test of a Master), welches bei der Durchführung des EMV Tests an den Master angeschlossen werden soll.

Funktionsbeschreibung

Für den Test erzeugt das Test-Device 8-Bit Zufallszahlen, die als Prozessdaten vom Master gelesen und im nächsten Zyklus an das Test-Device zurückgeschrieben werden sollen.

Das Device überprüft dann, ob die vom Master zurückgesandten Prozessdaten mit den im vorhergehenden Zyklus gesendeten Daten übereinstimmen und erhöht einen internen Feherzähler, falls dies nicht der Fall sein sollte. Der Fehlerzähler wird auch erhöht, wenn ein Checksummenfehler oder ein Paritätsfehler detektiert wurde oder wenn ein Masterzyklus komplett ausbleibt.

Der Zustand des Fehlerzählers wird auf einer Siebensegmentanzeige wiedergegeben. Zusätzlich kann der Master nach Beendigung des Tests den Fehlerzähler über IO-Link Parameter auslesen. Die IO-Link Schnittstelle erlaubt es auch, die Fehlerstände der einzelnen Fehlerarten auszulesen.

Um bei Problemen diese besser identifizieren zu können gibt es einen optischen Triggerausgang, der über einen Lichtwellenleiter mit einer Triggerbox verbunden werden kann. Die Triggerbox wandelt das optische Signal in ein elektrisches Signal um, das dann beispielsweise mit dem Triggereingang eines Speicheroszilloskops verbunden werden kann.

Das EMV-Test Device ist konfigurierbar. So kann zum Beispiel die Baudrate über DIP-Schalter eingestellt werden.

EMC-Test-Device Eigenschaften

  • Entspricht den Anforderungen der V1.1.3 IO-Link Interface Specification
  • Alle 3 COM-Raten werden unterstützt (DIP Schalter und IO-Link Parameter)
  • Interner Pseudo-Random-Zufallsgenerator
  • Fehlerzähler für Parität, Checksumme, Daten- und Time-Out Fehler
  • Dual 7-Segment Anzeige für Betriebmodus und Fehlerstand
  • Fehlerstände sind über IO-Link abrufbar
  • Optischer Fehler-Trigger Ausgang
  • Zusätzliche Unterstützung von Round-Trip-Delay-Messungen
  • Gesamtfehleranzahl und maximale Fehleranzahl innerhalb einer standardisierten Gruppe von M-Sequenzen separat über IO-Link verfügbar. Zwei Gruppengrößen pro COM-Speed wählbar

Vorteile

  • Kein zusätzlicher Entwicklungsaufwand bei Master-Herstellern
  • Kürzeres "Time to Market" bei Master Entwicklungen
  • Unterstützungsfunktionen zur Fehleranalyse

IODD Studio

IODD-Designer

IO-Link-Geräte müssen durch IO-Link-Device-Descriptions, kurz "IODD", beschrieben werden. Diese IODDs sind komplex strukturierte XML-Dateien mit zahlreichen Einschränkungen und Abhängigkeiten. Die Bearbeitung einer IODD kann zu einer mühsamen und langwierigen Aufgabe werden und es ist schwierig, die Integrität zwischen Gerät und IODD im Falle von Änderungen aufrecht zu erhalten.

TEConcept hat ein IODD Studio entwickelt, das die Bearbeitung von IODDs erheblich vereinfacht.

Das IODD Studio ist ein flexibles Werkzeug, mit dem der Benutzer die gewünschte IODD erstellen kann und das nur Rückmeldungen über Fehler gibt, die von den benutzerdefinierten Validatoren gefunden wurden. Aus diesem Grund wird dieses Tool für Benutzer empfohlen, die bereits Erfahrung im Umgang mit IODD-Dateien haben. Das IODD-Studio unterstützt die Erstellung neuer IODDs von Grund auf sowie den Import und die Änderung bestehender IODDs. Der Benutzer kann auch die Validierungsregeln anpassen, die für die erstellte IODD gelten.

Erstellte/geänderte IODDs können mit dem "offiziellen" IODD-Checker von der IO-Link-Webseite überprüft und "gestempelt" werden.

IODD Studio Features

  • Konform zur IO-Link Spezifikation V1.1.3
  • Wireless IODD Unterstützung
  • Konfigurierbare IODD-Validatoren
  • Aktueller Projektstatus kann gespeichert und wiederhergestellt werden
  • Integrierter IODD-Finder
  • IOLFW-Paket-Ersteller
  • Integrierter XML-Betrachter/Editor
  • BLOB Transfer Profil Unterstützung
  • Unterstützung von Identifikations- und Diagnoseprofilen
  • Import von Elementen aus bestehenden IODDs
  • Installationsprogramm für Windows 7/8/10

Vorteile

  • Beschleunigte IODD Erstellung
  • Kein XML - Know How erforderlich
  • Import und Modifikation existierender IODDs wird unterstützt
  • Flexibilität
  • Konfigurierbare Eingabevalidierung
  • Erstellung von herstellerspezifischen IODD-Vorlagen
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